Basler ace 2 X SWIR 및 UV 카메라#
이 카메라는 가시광선 영역을 넘어 비전 성능을 확장하며, 일반 카메라로는 보이지 않는 특징을 감지하고 검사할 수 있게 해줍니다.
ace 2 X SWIR 카메라는 0.4~1.7 µm 파장 범위의 가시광선 및 단파 적외선 영역 모두에서 우수한 Image Quality를 제공합니다. 복잡한 구조 투과나 숨겨진 물체 감지와 같은 용도에 탁월합니다.
ace 2 X UV 카메라는 200~400 nm 파장 범위의 보이지 않는 자외선 대역에서 이미지를 캡처합니다. 숨겨진 것을 볼 수 있도록 지원합니다. 이를 통해 플라스틱 분류, 웨이퍼 표면 검사, 태양전지 검사, 보안 기능 검사 등 다양한 고유 용도가 가능해집니다.
