Basler ace 2 X SWIR 및 UV 카메라#
이 카메라는 가시광선 스펙트럼을 넘어 비전 기능을 확장하므로, 기존 카메라로는 보이지 않는 특징을 감지하고 검사할 수 있습니다.
ace 2 X SWIR 카메라는 0.4~1.7 µm 파장의 가시광선 및 단파 적외선 스펙트럼 모두에서 우수한 Image Quality를 제공합니다. 복잡한 구조 투과나 숨겨진 물체 감지와 같은 애플리케이션에서 탁월한 성능을 발휘합니다.
ace 2 X UV 카메라는 200~400 nm 파장의 보이지 않는 자외선 빛 스펙트럼에서 이미지를 캡처합니다. 숨겨진 부분을 시각화할 수 있으므로 플라스틱 선별, 웨이퍼 표면 검사, 태양전지 검사, 보안 기능 검사 등 다양하고 고유한 애플리케이션이 가능해집니다.
